美佳特科技
MEIJIATE TECHNOLOGY售前售中售后完整的服務(wù)體系
誠信經(jīng)營質(zhì)量保障價格合理服務(wù)完善安立 Anritsu MP2110A功能縮短測量時間
借助這款內(nèi)置 BERT 和采樣示波器的一體化儀器,可在顯示眼圖的同時立即捕獲測量結(jié)果。因此,一眼就能看到評估多通道光學(xué)模塊/裝置所需的全部測量結(jié)果,大大縮短了測量時間。
BERTWave MP2110A 可同時對 2 個通道執(zhí)行高速采樣,速率高達(dá) 250,000 采樣點/秒。另外,內(nèi)置的自動波罩余量測試功能只需約 5 秒就能捕獲 100 萬個 25 Gbit/s 信號樣本,與上一代儀器相比,眼圖分析時間大約縮短 65%。
QSFP28 100 Gbit/s(25 Gbit/s × 4 通道)測量條件下的眼圖分析時間比較
BERTWave MP2110A 采樣示波器擁有測量 100 GbE 和 OTU4 等模塊以及光學(xué)模塊中光學(xué)裝置所需的全部性能。
寬帶 O/E 確保所捕獲的直接調(diào)制光學(xué)信號和長途通信光學(xué)模塊的特性比前幾代儀器更加準(zhǔn)確。
而且,靈敏度高達(dá) -15 dBm(典型值,SMF),在配備光開關(guān)等元件的測量系統(tǒng)中,即使這些元件可能導(dǎo)致信號衰減,也能測量 DUT 眼圖和波罩余量。另外,采樣示波器采樣器的噪聲為 3.4 µW(典型值,SMF),也可以安裝典型值為 200 fs rms 的高精度觸發(fā)選項。高性能確保測量準(zhǔn)確,以提高生產(chǎn)線產(chǎn)量。
典型光學(xué)信號波形
在標(biāo)準(zhǔn)配置下,BERTWave MP2110A BERT 以 24.3 Gbit/s 至 28.2 Gbit/s 的比特率運行。此范圍可以選擇性地擴(kuò)展,以支持 9.5 Gbit/s 至 14.2 Gbit/s 的比特率,從而能夠?qū)⑵溆糜诎?10 GbE 和 100 GbE 在內(nèi)的各種應(yīng)用領(lǐng)域。
BERTWave MP2110A PPG 的數(shù)據(jù)抖動低至 600 fs rms(典型值),可準(zhǔn)確地測量光學(xué)模塊、光學(xué)裝置等的特性。另外,25 mV(典型值)ED 支持對產(chǎn)生路徑傳輸損耗的低幅度信號執(zhí)行 BER 測量,從而有助于提高 DUT 產(chǎn)量。
25.78125 Gb/s 電氣回路波形(PRBS 31,幅度 200 mV,精密觸發(fā)器選件“開”)
支持的測量包括:0 電平、1 電平、SNR、眼圖閉合率、眼圖振幅、眼圖高度、眼圖寬度、抖動 p-p、抖動 RMS、消光比、上升時間、下降時間、占空比失真、平均功率、OMA 等。
測試很簡單,因為模板余量測試是自動執(zhí)行的。此外,模板余量測試僅需約 1 秒鐘,使得可在更短的時間里高速執(zhí)行合規(guī)性測量,從而提高了生產(chǎn)線的生產(chǎn)率。
利用組數(shù)據(jù)分布的平均值、 標(biāo)準(zhǔn)誤差和散布情況進(jìn)行波形數(shù)據(jù)成分分析,使排除故障更輕松。
可將測得的波形數(shù)據(jù)保存下來供參考, 從而能夠?qū)?dāng)前的數(shù)據(jù)與之前的數(shù)據(jù)進(jìn)行對比。
借助每個通道的同步功能,只需設(shè)置 BERTWave MP2110A 的一個通道即可同時設(shè)置所有通道;而且由于可以更改每個通道的測試模式,所以執(zhí)行有源光纜 (AOC) 和直接連接電纜 (DAC) 系統(tǒng)等多通道傳輸設(shè)備要求的串?dāng)_測試會變得容易。此外,支持多達(dá) 2 個通道的光學(xué)眼圖分析。
而且,MP2110A 保留了 BERTWave 系列所有型號設(shè)置簡單、界面易用的優(yōu)勢;向后兼容 MP2100B 的遠(yuǎn)程命令,確保儀器升級毫無煩憂。另外,內(nèi)置 PC 帶來的穩(wěn)定運行確保在任何操作環(huán)境下都能獲得出色的性能。
以前的測量系統(tǒng)極其復(fù)雜,因為需要單獨使用 BERT 作為信號源,再使用采樣示波器執(zhí)行眼圖分析。集成了 BERT 和采樣示波器的一體化 BERTWave MP2110A 大地簡化了測量系統(tǒng)的配置。
由于 4 通道 BERT 和雙通道采樣示波器安裝在一個機(jī)柜內(nèi),因此測量系統(tǒng)的配置和控制變得更加方便,能夠同時執(zhí)行多通道 QSFP28 等光學(xué)模塊和光學(xué)裝置的 Tx/Rx 測量。增加通道數(shù)可縮短多通道光學(xué)模塊和裝置的測量時間,否則各通道單獨測量可能需要較長的測量時間。